KifidiaKifidia
Geri

Patent, Faydalı Model ve Entegre Devre Topoğrafyası

Prof. Dr. Habip Asan
Henüz puanlanmamış
0 paylaşım

Sınai Mülkiyet Hakları Uygulamaları Serisinin bu kitabı; ekonomik kalkınmanın en önemli göstergelerinden olan patent, faydalı model ve entegre devre topoğrafyası ile ilgilidir. Bu alanlarda yapılacak başvurularda, güçlü bir koruma elde edilebilmesi için iyi bir strateji oluşturulmalı ve başvuru öncesinde detaylı çalışmalar yapılmalıdır. Kitapta, başvurular için gerekli ön bilgilerden ve başvuru süreçlerinden bahsedilmiştir. Aynı zamanda, salt patent hukukunu içeren kitaplardan farklı olarak pratikte yararlanılabilecek bilgiler de verilmiş ve hâlihazırda var olan başvurulardan örnekler sunulmuştur. Ayrıca kitapta, uluslararası ofis uygulamaları ve mahkeme kararlarını içeren bilimsel örneklere de yer verilmiştir. Bu alanda çalışan, kariyer hedefleyen veya konuya ilgi duyan herkesin yararlanabileceği bir kaynak oluşturulmuştur.

Okuyucuların Hisleri

Bu eser için ilk hissi sen ekle.

Kitap Künyesi

Yayınevi
Lykeion
Basım Yılı
2021
Sayfa Sayısı
209
Kapak Türü
Karton Kapak
Kağıt Türü
Kitap Kağıdı
Boyut
16 x 24 cm
Dil
Türkçe
ISBN
9786057422330

Tahmini Okuma Süresi

Toplam ~5 Saat 14 Dakika
Günde 30 dk
11 gün
Günde 1 saat
6 gün
Günde 2 saat
3 gün

209 sayfa · ortalama okuma hızına göre tahmini.

Reklam